Приглашаем на очередную тематическую встречу со специалистами Федерального института интеллектуальной собственности (ФИПСа) в режиме видеоконференции, которая состоится 13 марта 2019 г. в 15:00 в чит. зале № 7 (ком. 522) ГПНТБ СО РАН.
Тема встречи: «Использование патентной аналитики при патентовании изобретений, полезных моделей и промышленных образцов».
Патентная аналитика, опираясь на патенты как на самый объективный и релевантный источник актуальной технологической информации, отвечает на эти запросы и позволяет повысить качество программ инновационного развития, обеспечить эффективное планирование и выполнение портфелей НИОКР.
Докладчик: А.Н. Сысоенко, старший научный сотрудник Научно-образовательного центра ФИПС.
Приглашаются правообладатели и их представители, руководители хозяйствующих субъектов, представители малого бизнеса, специалисты в области интеллектуальной собственности, а также все лица, проявившие интерес к данной теме.
Участие в мероприятии свободное.
Тел. для справок +7 383 266 02 33, +7 383 266 26 54
